AI Projectを発足しました。

2020年9月、株式会社昭和電気研究所は、AI技術を活用し、より高精度、高効率な検査を目指す「AI Project」を発足しました。
近年、多様化した検査により、複雑化した検査設定を行うために、膨大な工数が必要です。
検査工程における、不良分類工数の削減、不良を発生源の特定を容易に行える機器の開発チームを結成しました。

【目標】
・画像認識後の欠陥種別分類を容易に！
・不良発生源の特定
・設定値の最適化を容易に！